CM30新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪的详细资料

新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪

产品介绍

新款沈阳宇时彩屏涂层测厚仪采用磁性/涡流测量原理，测量金属基体上涂镀层厚度。仪器采用全金属外壳，经过CNC精密机械加工及阳极氧化处理，并配以不锈钢上下盖。仪器从机身到接插件均做密封处理，*符合IP68防水防尘标准。本仪器可应用于制造业、金属加工业、航天航空、铁路运输、化工业、商检业等检测领域，是无损检测行业*的仪器。

CM30涂层测厚仪可选配探头： F3：0~3000um N2：0~2000um FN1.5：0~1500um F10：0~10000um。

CM30涂层测厚仪测量方法及注意事项

握住探头外壳靠近头部一端。

探头垂直落于被测物表面，直到仪器屏幕出现数值。

探头每次抬离被测物表面高度5cm以上。

若探头置于被测物表面长时间不出现读数，可抬起探头重新测量，或重启仪器。

仪器测量界面下部有探头测量状态指示图标，指示探头处于测量被测物表面（高亮白色）或是探头抬起（灰色）状态

零点调整

利用无涂、覆层的被测工件或与被测工件形状、结构相似的工件，对探头调零。

一点校准

利用无涂、覆层的被测工件或与被测工件形状、结构相似的工件测量标准试片厚度，并调整仪器数值与标准试片相同或接近。

两点校准

在一点校准的基础上，测量与第一点不同厚度的标准试片，并调整仪器数值与标准试片相同或接近。先校准厚度值较小的试片，再校准厚度值较大的试片。

技术参数

测量参数