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使用涂镀层测厚仪的规定

2013-09-24

  涂镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
  
  使用涂镀层测厚仪时应当遵守的规定
  
  a基体金属特性
  
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  
  b基体金属厚度
  
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
  
  c边缘效应
  
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  
  d曲率
  
  不应在试件的弯曲表面上测量。
  
  e读数次数
  
  通常由于涂镀层测厚仪的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
  
  f表面清洁度
  
  测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质

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