涂镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
　　
　　使用涂镀层测厚仪时应当遵守的规定
　　
　　a基体金属特性
　　
　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
　　
　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
　　
　　b基体金属厚度
　　
　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
　　
　　c边缘效应
　　
　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
　　
　　d曲率
　　
　　不应在试件的弯曲表面上测量。
　　
　　e读数次数
　　
　　通常由于涂镀层测厚仪的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
　　
　　f表面清洁度
　　
　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质