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M1054奥林巴斯超声探伤仪单晶纵波探头的详细资料

优势

• WC-5防磨板增加了这种探头的耐用性、抗裂性及防磨性。• 所有这类探头都可用于检测面粗糙的工业部件。• 具有与大多数金属匹配的近似声阻抗。• 可用于检测多种材料。

应用

• 垂直声束缺陷探测和厚度测量。• 分层缺陷的探测和定量。• 材料特性评价和声速测量。• 检测平板、坯材、棒材、锻件、铸件、挤压成形件及多种其它金属与非金属部件。• 可在50°C(122°F)的高温下持续使用。

磁性固定接触式

• 绕探头外壳的磁性环可将探头稳固在铁性材料上。

• 具有与Videoscan系列探头相似的宽带性能

奥林巴斯超声探伤仪测头M1054

介绍

接触式探头是一种可与被检工件直接接触的单晶纵波探头。

频率标称晶片尺寸工件编号
MHz英寸毫米
50.513M1042
0.256M1057
100.513M1056
0.256M1054
150.256M1055

注意:以上所有磁性固定接触式探头都带有平直Microdot 连接器。

高频探头:

高频探头包括延迟块探头和聚焦水浸探头。这些探头的频率范围在20 MHz至225MHz之间。高频延迟块探头可以对厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料进行厚度测量(取决于材料、探头、表面条件、温度和设置)。高频聚焦水浸探头是对硅制微型芯片等具有低衰减性的薄材料进行高分辨率成像和缺陷探测应用的理想探头。

高频探头为单晶接触式或水浸式探头,可产生等于或高于20 MHz的频率。

优势

• 强阻尼宽带设计提供了很好的时间分辨率。

• 短波长可获得很好的缺陷分辨率能力。

• 直径极小的声束也可以聚焦。

• 频率范围为20 MHz到225 MHz。

应用

• 高分辨率缺陷探测,如:微孔隙检测或微裂纹检测。

• 表面断裂或不平整性的C扫描成像。

• 可测量薄如0.010毫米(0.0004英寸)材料的厚度

• 可对陶瓷及高级工程材料进行检测。

• 可对材料进行分析。

*厚度范围取决于材料、探头、表面条件、温度及所选的的设置。高频接触式

• 使用直接接触检测法时,利用熔融石英延迟块可进行缺陷评价、材料分析或厚度测量。

•3种不同延迟块的配置(BA、BB、BC)可形成多种延迟块回波的组合。

• 其标准连接器类型为直角Microdot(RM)。


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