CHC706-RM奥林巴斯超声波双晶探头的详细资料

奥林巴斯超声波双晶探头CHC706-RM

介绍

双晶探头在同一个外壳中装有由隔音屏障分开的两个晶片。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收声波。

角度声束探头：

角度声束探头是一种与楔块一起使用的单晶探头，可以所选的角度将纵波或横波

发射到工件中。角度声束探头可以对工件中垂直入射接触式探头的超声声程无法到达的区域进行检测。角

度声束探头一般用于焊缝检测，因为如果使用标准接触式探头，焊冠会挡住声波，使声波无法到达希望检

测的焊缝区域，而且一般的缺陷对准操作会使角度声束产生更强的反射信号。

角度声束探头是一种与楔块一起使用的单晶探头，可以向被测工件内部发射折射横波或纵波。

优势

• 三种材料制成的Accupath楔块在提高了信噪比性能的同时，还表现出防磨特性。

• 高温楔块可对热材料进行在役检测。

• 用户可根据需要定制楔块，以得到非标准的折射角度。

• 具有可更换型和整合型两种结构设计。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在铝制材料中获得标准折射角度的楔块及整合组件设计。

应用

• 缺陷探测与定量。

• 要了解衍射时差探头。

• 检测管道、管件、锻件、铸件，机加工部件和结构部件上的焊缝缺陷或裂缝。袖珍旋入式探头

• 旋入式设计，303不锈钢外壳。

• 不同频率的探头颜色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高温和表面波楔块。

延迟块探头：

延迟块探头为单晶宽带接触式探头，其特殊的结构设计是在探头晶片前插有塑料或环氧材料制成的一个薄片。

延迟块改进了工件近表面缺陷的分辨率，可以测量更薄的材料厚度，并能提供更的厚度测量结果。延迟块

可根据工件的表面几何形状紧贴在工件上，而且还可用于高温应用中。

可更换延迟块探头是一种单晶接触式探头，专门与可更换的延迟块一起使用。

优势

• 强阻尼探头加上延迟块可以提供的近场分辨率。

• 较高的探头频率提高了分辨率。

• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。

应用

• 测厚。

• 垂直声束缺陷探测。

• 对接触区域有限的工件进行检测。可更换延迟块探头

• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和一个固定环。

• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。

• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。

应用

• 剩余壁厚测量。• 腐蚀/侵蚀监控。• 焊缝覆盖和覆层的粘胶/脱胶检测。• 探测铸件和锻件中的多孔性、夹杂物、裂纹及分层等缺陷。• 探测螺栓或其它圆柱形部件中的裂纹。

• 等于或小于5.0 MHz的探头可承受的*高温度为425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探头可承受的*高

温度为175°C（350°F）。表面温度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情况下，建议使用的占空因

数为*多10秒钟接触，然后进行*少1分钟的空气冷却（不适用于袖珍双晶）。

• 金属防磨环延长了探头的寿命。• 在探头面需要重做表面处理时，防磨指示器会提供参考信息。• 滚花，303不锈钢外壳。

• 可更换线缆的设计（备有带应变泄落功能的特殊双线缆）。

复合晶片齐头外壳双晶