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EPOCH 1000奥林巴斯 OLYMPUS 相控阵探伤仪探头的详细资料

奥林巴斯 OLYMPUS 相控阵探伤仪EPOCH 1000 相控阵探头 

 典型相控阵探头的频率范围在 1  MHz 到17 MHz之间,晶片数量在10个到128个之间。奥林巴斯提供各种使用压电复合材料技术的探头,适用于多种类型的检测。这里说明奥林巴斯的标准相控阵探头。这些探头分为3种类型:角度声束探头、整合楔块探头,以及水浸式探头。还可以设计其他类型的探头,以满足您的应用需求。线性阵列探头是工业应用中常用的相控阵探头。定义相控阵探头的重要特征之一是的探头孔径。定制的相控阵探头和楔块 - 为定制相控阵探头和/或楔块我们生产的相控阵(PA)仪器可进行快速检测,并生成被测工件内部结构的、详细的横截面图像。相控阵技术使用多个超声晶片及电子时间延迟,创建可以电子方式传播、扫描、扫查及聚焦的声波,以进行快速检测、完整的数据存储,以及多角度的检测。相控阵技术可提供极为可靠的测量结果。

相控阵探头焊缝系列探头焊缝检测探头的线缆会从其外壳的前面或顶部伸出,这样就可以避免线缆缠绕到扫查器的探头架。这些探头适用于对焊缝进行的手动和自动检测。A31和A32焊缝系列相控阵探头和楔块以其简约的设计,不仅使焊缝检测得到了简化和标准化,而且还改进了信噪比。优势特性适用于焊缝检测的优化设计的信噪比性能宽泛的厚度测量范围新颖的楔块概念,可改进与工件的耦合效果在声学上,可与Rexolite匹配典型应用A31和A32探头使用角度声束对3毫米到60毫米厚的焊缝进行手动或自动检测提供用于横波或纵波检测的创新型楔块设计在被动轴上聚焦(PAF)的楔块这个已获的聚焦楔块系列在对管道周向上的环焊缝进行检测时,有助于补偿声束在被动轴方向的发散现象。宽度较小的声束可以对扫查轴方向上的较短的缺陷进行定量,从而有助于降低报废率,并提供更清晰的图像。碳钢管道和平板奥林巴斯用途广泛的焊缝检测解决方案采用多种技术对平板和外径等于或大于4.5英寸的管道进行多产的检测。相控阵、衍射时差以及常规超声等技术在检测过程中可被单独使用,也可以组合在一起使用,以覆盖整个焊缝,并获得很高的检出率。这种解决方案还可以使用不同的扫查方式,获得缺陷定位和定量的准确数据。扫查器具有优质的稳定性和编码性能,不仅可使检测符合规范的要求,还可获得质量更好的检测数据。在以手动、手动编码、半自动或自动方式进行扫查并收集数据时,需使用不同的扫查器。奥林巴斯的碳钢焊缝检测解决方案将奥林巴斯的采集设备、扫查器、探头,以及根据用户的需要量身定做的软件结合在一起使用。这种解决方案可以进行缺陷的长度和深度定量,以根据规范做出接收/拒绝的判断。复合式扫查一次单组复合式扫查所覆盖的区域相当于两个扇形扫查所覆盖的区域奥林巴斯的NDT SetupBuilder更新版软件提供了进行复合式声束扫查的性能。这项创新型检测策略将扇形声束和线性声束混合在一起,进行检测,具有很多优势特性,例如:更高的检出率检测更厚的材料更快的检测速度更短的设置和校准时间更快的数据分析焊缝系列PA探头和楔块A31和A32相控阵探头和楔块具有性能,可使检测达到更高的水平。改进了信噪比符合人体工程学的设计改进了耦合效果可以进行复合式扫查高温检测如果用户要求,我们可以提供一种与新款A31和A32相控阵探头和奥林巴斯的Mini-Wheel(袖珍轮)编码器相兼容的高温楔块选项。这种可选楔块有助于对表面温度高达150 ⁰C的工件进行检测。次轴聚焦(PAF)楔块已获得权的奥林巴斯次轴聚焦楔块系列产品有助于补偿次轴方向上的声束扩散问题,从而可以有效地进行管道环焊缝的检测。较小的声束宽度可以在扫查轴方向上定量较短的缺陷,从而有助于降低废品率。此外,由于声束能量的聚焦改进了信噪比(SNR),从而使缺陷图像更加清晰。 双矩阵(DMA)探头包含两个与同一个连接器连线的矩阵探头,具有使用发送-接收纵波(TRL)声束进行检测的能力。这类探头在检测带堆焊层的管道或具有高衰减性的材料时,特别有用。相控阵探头的优势特性具有在粒状材料中发送和接收纵波的能力增强了在不锈钢材料中的穿透能力,其中包括奥氏体、耐腐蚀合金,以及异种材料焊缝出色的信噪比典型应用A17、A25、A26和A27探头不锈钢焊缝的应用耐腐蚀合金(CRA)不锈钢奥氏体材料带堆焊层的管材异种材料焊缝用于腐蚀检测的双晶阵列探头双晶线性阵列探头,在腐蚀检测应用方面,为检测人员提供了多种优于常规超声双晶探头的优势。这种相控阵解决方案可以提供更大的声束覆盖范围、更快的扫查速度,以及具有更高数据点密度的C扫描成像功能,从而可提高检测效率。用于腐蚀检测的双晶线性阵列(DLA)探头,与常规超声双晶探头相比,具有更多优势特性。这种相控阵解决方案可以提供更大的声束覆盖范围、更快的扫查速度,以及具有更高数据点密度的C扫描成像功能,从而可提高检测效率。与标准相控阵脉冲回波相比,这种新探头所采用的一发一收技术在腐蚀测量应用中可提供更好的近表面分辨率和点蚀探测能力,提高了临界性壁厚减薄情况的检出率。得益于其内置灌溉和可更好地贴附于管道弧面的可更换式延迟块等新功能,双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头现在可用于进行自动检测。探头的优势和特性可探测表面以下1毫米的缺陷性价比较高的可更换式延迟块内置灌溉高温选项,可扫查热表面声束覆盖宽度高达30毫米用途广泛且调整迅速的系统,适用于直径从4英寸到平面材料的检测坚固耐用的硬质合金防磨板,可保护楔块碳钢材料典型的检测深度范围为1毫米到80毫米USB存储盘中的OmniScan配置文件(MX、MX2和SX)OmniScan软件特性侧视图、端视图和俯视图成像(B扫描、D扫描和C扫描)完整的高分辨率A扫描存储两个可配置的探测闸门在OmniScan探伤仪或使用OmniPC软件的计算机中进行离线分析新特性,新潜能双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头和OmniScan SX探伤仪的组合是一种经济实惠的检测选项。这种解决方案设置方便,操作简单:加载所提供的设置文件,核查校准情况,然后检测并记录数据。无需使用脉冲发生/接收(PR)仪器。无论是使用编码器对某个区域进行手动扫查,还是使用MapROVER电动扫查器进行高速、全体积成像,双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头都可以在光滑的表面上快速轻松地完成C扫描成像操作。创新型探头稳定系统与可更换式弧面延迟块和灌溉功能相结合,可在直径小至4英寸的管材表面提供优质的声束传播效果。我们还提供可检测温度高达150°C表面的双晶线性阵列(DLA)腐蚀探头的高温版本。在自动检测中与MapROVER扫查器一起使用的DLA腐蚀探头。双晶阵列一发一收技术与双晶UT探头一样,双晶线性阵列探头包含一组发射晶片和一组接收晶片,这两组晶片被分别安装在以一定角度切割的延迟块的两部分上。这种配置生成在被测工件表面以下聚焦的声束,从而可大幅降低表面反射的波幅。而且还提高了近表面分辨率,可获得点蚀、蠕变损伤和HIC(氢致裂纹)等关键性缺陷的更高的检出率。

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