手机:18939261751

您当前的位置:>> 首页 >>技术文章>> 涂镀层测厚仪的技术缺陷
产品目录

产品搜索:
请在下列输入框内输入您要查找的产品名称。

技术文章
打印 字体缩放

涂镀层测厚仪的技术缺陷

2014-01-21

目前涂镀层测厚仪的技术,不管是国内还是国外,出名的品牌还是一般的生产厂家,他们所生产的测厚仪的操作方法均需要如下步骤:1、调零,即在特定的零板上调零,或在需要测量的原基材上调零;2、根据测量产品的不同测量范围,用适当的测试片调值,以减少测量上的误差。这种方法一般情况下,仪器新购使用时还是没有什么问题的,只是比较繁琐一点。但当探头使用一段时间后,问题就出来了。操作中我们的涂镀层测厚仪测量精度大大减小了。很难把握。原因在于产品的原理,这是一个致命的缺陷,即探头是使用一根磁铁绕线圈。通上电流后产生磁场,这个磁场是不规则的。

还好,现在有一款新型的涂层测厚仪,它采用的是的磁感技术。也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,霍尔发现这个电位差UH与电流强度H成正比,与磁感应强度B成正比,与薄片的厚度d成反比。这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时,使用更为简单和方便了。

关闭>>

© 2018 郑州卓泰检测设备有限公司(www.mitechndt.com) 版权所有
网站地图 ICP备案号: 访问量:270527 管理登陆
化工仪器网 制作维护
在线客服 联系方式

服务热线

18939261751