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X光镀层测厚仪的使用注意事项

2013-11-11

X光镀层测厚仪的使用注意事项

基体金属特性

  • 对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  • 对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

基体金属厚度

检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3)中的某种方法进行校准。

边缘效应

不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。

曲率

不应在试件的弯曲表面上测量。

读数次数

通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。

表面清洁度

测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。

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